Постоянное совершенствование качества процессов, продукции и услуг является основой удовлетворенности клиентов.
Сертификация системы менеджмента
Мы строго соблюдаем требования международных сертификатов качества и стремимся предоставлять клиентам высококачественную и надёжную продукцию. Все производственные предприятия Semiware прошли сертификацию систем менеджмента качества IATF16949 и ISO9001, сертификацию по охране окружающей среды, охране труда и технике безопасности ISO14001 и ISO45000, а также сертификацию по опасным веществам QC080000.
Благодаря ежедневной практической работе Semiware продолжает превосходить ожидания клиентов, создавать более эффективные и надёжные полупроводниковые приборы, а также предоставлять более быструю и комплексную систему обслуживания. Каждый сотрудник Semiware несёт ответственность за предоставление высококачественного обслуживания внутренним и внешним клиентам. Постоянное повышение качества процессов, продукции и услуг — основа удовлетворенности клиентов.
Если у вас возникли проблемы с надёжностью продукта, наша команда по анализу отказов готова помочь. Обратитесь к местному торговому представителю, чтобы заполнить и отправить форму запроса на анализ отказов. Наша служба поддержки клиентов оперативно оценит и решит вашу проблему.
Electrostatic GeneratorEquipment Model: ESD61002TA
Test Standards: EN/IEC 61000-4-2 and GB/T 17626.2
Discharge Modes: Contact discharge, Air discharge
Combined Surge GeneratorEquipment model: PRM17626
Test standards: IEC61000-4-5 and GB/T17626.5
Open circuit output voltage: 1.2/50us, 10/700us
Open circuit and short circuit current: 8/20us, 5/320us
8/20μs Surge testerEquipment model: SUG61005TB
Voltage wave: 1.2/50μs, 0.2~6kV
Current wave: 8/20μs, 0.1~3kA
Output impedance: combined wave-2Ω; insulation impedance-500Ω
Automotive Jamming SimulatorEquipment model: ISO7637 P2.b4
Stable voltage: 12V±0.2V; 24V±0.4V
First voltage drop Us: 6 to 7V; 12 to 16V
Second voltage drop Ua: 2.5 to 6V; 5 to 12V
6KV lightning surge generatorEquipment model: SUR 700
Standard: IEC 61000-4-5 and GB/T 17626.5
Waveform: CCITT; 10/700us; 5/320us
Output voltage: 0.2~6kV
ring wave generatorEquipment model: RWIT6
Standard: IEC61000-4-12 and GB/T17626.12
Output voltage: 0.2~6kV
Pulse polarity: positive, negative, positive first then negative, negative first then positive
X-Ray Detection MachineEquipment model: MVX2000
Function: Check product bonding wires, chip connections and lead frames, voids and bubbles, etc.
Ultrasound ScannerEquipment model: D9650
Function: Check delamination between devices, chip cracks, etc.
Electronic Digital MicroscopeEquipment model: VHX-7000N
Function: Check device appearance, cracks, contamination, scratches, oxide layer defects, etc.
Scanning Electron MicroscopeEquipment model: ISFE1050
Function: Qualitative and semi-quantitative analysis of analytical elements on the device surface
Slice GrinderEquipment model: SUC3200
Function: cross-section display of sample structure, search for internal structure or abnormal points
Film Thickness TesterEquipment model: FI-CH55
Applicable standards: GB/T16921-05 ISO3497
Applicable objects: electroplating coating thickness analysis and measurement
H3TRB SystemEquipment model: BTR-T671
Test standard: JESD22-A101
Function: Simulate the device's resistance to moisture under high temperature, high humidity, and bias conditions
HAST Testing SystemEquipment model: B-HAST-55
Test standard: JESD22-A110
Function: Evaluate the moisture resistance of non-hermetic packaged devices under bias
IOL Life Test SystemEquipment model: BTD-T810
Test standard: MIL-STD-750
Function: Evaluate the reliability of the product during repeated opening and closing processes
TCT Testing SystemEquipment model: LCJ-540
Test standard: JESD22-A104
Function: Evaluate a product’s ability to withstand alternating high and low temperature extremes
Salt Spray Corrosion ChamberEquipment model: YWX-2000
Test standard: GB/T.2423.17
Function: Evaluate the salt spray corrosion resistance quality of products or metal materials
HTRB SystemEquipment model: BTR-T600
Test standard: JESD22-A108
Function: Determine the effects of bias conditions and temperature on solid-state devices over time.
Мы используем файлы cookie. Продолжая просмотр нашего сайта, вы соглашаетесь на использование нами файлов cookie.